平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列,每個(gè)系列各分六組,每組四塊。
平行平晶功能:平行平晶用于干涉法測(cè)量千分尺、卡規(guī)和千分表等測(cè)量面平面度、平面平行度。
平行平晶產(chǎn)品規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個(gè)尺寸系列組
測(cè)量面上平面度偏差: μ
平面度局部偏差: μ
測(cè)量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:μ
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:μ
組Ⅳ系列允差值:μ
組Ⅰ |
平行平晶 |
0- |
4塊組 |
組Ⅱ |
平行平晶 |
25- |
4塊組 |
組Ⅲ |
平行平晶 |
50- |
4塊組 |
組Ⅳ |
平行平晶 |
75- |
4塊組 |
平行平晶尺寸系列表
組號(hào) |
0- |
25- |
50- |
75- |
1 |
15.00, |
40.00, |
65.00, |
90.00, |
2 |
15.12, |
40.12, |
65.12, |
90.12, |
3 |
15.25, |
40.25, |
65.25, |
90.25, |
4 |
15.37, |
40.37, |
65.37, |
90.37, |
5 |
15.50, |
40.50, |
65.50, |
90.50, |
6 |
15.62, |
40.62, |
65.62, |
90.62, |